Process and facility for selective defect detection in a...

Details Process and facility for selective defect detection in a... Process and facility for selective defect detection in a...

G - Physics

01

N

349/44

G01N 29/04 (2006.01) G01N 29/07 (2006.01) G01N 29/11 (2006.01) G01N 29/30 (2006.01) G01N 29/44 (2006.01)

Patent

CA 1267215

ABFEGE DESCRIPTIF En vue d'une détection sélective de défauts microscopiques dans une pièce a contrôler présentant au moins une discontinuité macroscopique de nature connue lors d'un déplacement relatif vis-à-vis de cette pièce suivant une ligne de contrôle donnée, on détecte les instants auxquels cette ligne de contrôle rencontre une discontinuité et on recherche d'éventuels défauts dans la pièce de façon intermittente, pendant des intervalles de temps définis par référence auxdits instants. Cels s'applique notamment au contrôle de cordons de soudure de tubes soudés.

478474

Affiliated with

Also associated with

Rating

Process and facility for selective defect detection in a... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Process and facility for selective defect detection in a..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Process and facility for selective defect detection in a... will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

Comments { 0 }

Profile ID: LFCA-PAI-O-1291318