Process and system using compton effect for localizing a...

Details Process and system using compton effect for localizing a... Process and system using compton effect for localizing a...

G - Physics

01

N

G01N 23/00 (2006.01) G01B 15/02 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01)

Patent

CA 2060265

-1- ABREGE DESCRIPTIF - Procédé et système permettant d'effectuer des mesures de haute précision de la localisation d'un plan (7) séparant deux milieux (6) de densités différentes, en utilisant l'effet COMPTON, ainsi que leur application à la mesure de l'épaisseur de couches. - Un ensemble de mesure (14), constitué d'un émetteur-récep- teur à rayons X ou .gamma. focalisés en émission et réception irradie un volume élémentaire (12) desdits milieux (6) et est déplacé perpendiculairement au plan (7) séparant ces milieux (6), et l'on calcule un cinquième signal représen- tant l'excédent, vis-à-vis d'un seuil, de la dérivée, par rapport au déplacement, du signal détecté, puis on calcule le barycentre des déplacements correspondant à la dernière succession de ces cinquièmes signaux de même signe, en pondérant ces déplacements par ledit cinquième signal correspondant. - Figure 1.

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