G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 11/24 (2006.01) G01B 11/14 (2006.01) H01J 3/14 (2006.01)
Patent
CA 2381488
A system (100) and method for measuring the profile of an external surface of a part (101) is provided. The system (100) includes a source of light that directs light onto a region of the external surface of the part (101). The system (100) also includes a linear, light-sensitive sensor, and a lens used to image locations within the region onto the sensor. The source of light and the sensor are located substantially within the same plane such that the sensor detects substantially only light scattered, diffracted, or reflected from the region and travelling substantially within the plane. The system (100) additionally includes a re-positionable mirror (110) that re-directs the light emitted from the source of light to the plurality of locations within the region and re-directs light scattered, diffracted, or reflected from the plurality of locations within the region to the lens and sensor.
L'invention concerne un système (100) et un procédé de mesure du contour d'une surface externe d'une pièce (101). Le système (100) comprend une source de lumière qui dirige la lumière sur une région de la surface externe de la pièce (101). Le système (100) comprend également un capteur linéaire sensible à la lumière, et une lentille utilisée pour représenter par une image des emplacements de la région sur le capteur. La source de lumière et le capteur sont situés sensiblement sur le même plan, de manière que le capteur ne détecte sensiblement que la lumière diffusée, diffractée, ou réfléchie par la région et se déplaçant sensiblement à l'intérieur du plan. Le système (100) comprend également un miroir (110) repositionnable qui redirige la lumière émise par la source de lumière aux divers emplacements de la région, puis redirige la lumière diffusée, diffractée ou réfléchie par les divers emplacements de la région vers la lentille et le capteur.
Clary Thomas R.
Greenberg Heath M.
Johnston Kyle S.
Lock Tomas E.
Nelson Spencer G.
Bereskin & Parr
Metron Systems Inc.
The Boeing Company
LandOfFree
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