Pulsed ion source for ion trap mass spectrometer

Details Pulsed ion source for ion trap mass spectrometer Pulsed ion source for ion trap mass spectrometer

H - Electricity

01

J

H01J 49/14 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2333721

An ion source (108) for use with an ion trap mass spectrometer (120). The ion source includes an electron source which produces a stream of electrons. The electrons are injected into an ionization chamber by the action of a repeller plate (104) and electron lens (106). Inside the ionization chamber, the electrons interact with a gas-phase sample to produce sample ions through the electron ionization process, or with a reagent gas to form reagent ions as part of a chemical ionization process. The sample ions produced are extracted from the ionization chamber by the action of an ion repeller (112) and an ion lens (105). The potentials on the electron repeller and lens, and ion repeller and lens are controlled to direct the electron stream away from the ionization chamber or to direct the sample ion beam away from an ion trap at the appropriate times during measurement of the sample ions.

Cette invention a trait à une source d'ionisation (108) utilisable avec un spectromètre de masse à piège à ions (120). Cette source d'ionisation comporte une source d'électrons produisant un courant d'électrons. Les électrons sont injectés dans une chambre d'ionisation par le biais d'une plaque réflectrice (104) et d'une lentille électronique (106). Dans la chambre d'ionisation, les électrons interagissent avec un échantillon en phase gazeuse pour produire des ions d'échantillon par le biais du processus d'ionisation électronique ou bien avec un gaz réactif de façon à former des ions réactifs en tant que partie d'un processus d'ionisation chimique. Les ions d'échantillon sont extraits de la chambre d'ionisation au moyen d'un réflecteur d'ions (112) et d'une lentille électronique (105). Les potentiels existant sur le réflecteur d'électrons ainsi que sur la lentille, le réflecteur d'ions et la lentille sont commandés de manière à éloigner le courant d'électrons de la chambre d'ionisation ou pour éloigner le faisceau d'ions d'échantillon du piège à ions et ce, à des moments pertinents lors de la mesure des ions d'échantillon.

Affiliated with

Also associated with

Rating

Pulsed ion source for ion trap mass spectrometer does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Pulsed ion source for ion trap mass spectrometer, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Pulsed ion source for ion trap mass spectrometer will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

Comments { 0 }

Profile ID: LFCA-PAI-O-1601568