H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/00 (2006.01)
Patent
CA 2585453
A method for analyzing data from a mass spectrometer includes the steps of acquiring raw mass spectral data in a profile mode (510); generating a peak list containing one of peak mass locations and peak mass ranges (510C) and being representative of candidate ions (510G); calculating a theoretical mass spectral isotope profile for each of the candidate ions (510H); forming a different peak component matrix for each of the candidate ions identified (510); performing regression analysis involving the peak component matrix for each of the candidate ions and the acquired profile mode data (510J); and ranking the candidate ions with a fitting statistic with that ion corresponding to the most significant statistic being the most likely candidate ion present (510K).
L'invention concerne un procédé d'analyse de données au moyen d'un spectromètre de masse, procédé comprenant les étapes suivantes : acquisition de données en mode de profil brut, contenant un ou plusieurs ions et leurs isotopes dans un intervalle de spectre de masse ; calcul des distributions isotopiques théoriques pour tous les ions entrant en ligne de compte, y compris les ions natifs ou marqués, sur la base de leur composition moléculaire ; convolution des distributions isotopiques théoriques avec une fonction en forme de pics cibles spécifiés durant l'étalonnage de l'instrument, des fonctions en forme de pics réels, ou des fonctions en forme de pics approximatifs, en vue d'obtenir des profils isotopiques théoriques pour tous les ions ; construction d'une matrice de composants de pics des profils isotopiques théoriques considérés inclus en tant que composants de pics ; exécution d'une régression linéaire multiple pondérée entre les données en mode profil et la matrice de composants de pics ; et indication des coefficients de régression en tant que concentrations relatives pour chacun des ions, ou classement de ces ions sur la base de statistiques d'ajustement, en tant que résultats de recherche. L'invention concerne en outre un système de spectromètre de masse (Fig. 1) fonctionnant conformément au procédé précité, ainsi qu'un support affecté d'un code informatique pour le fonctionnement du spectromètre.
Gu Ming
Wang Yongdong
Cerno Bioscience Llc
Sim & Mcburney
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1844590