Quantum beam aided atomic force microscopy and quantum beam...

G - Physics – 01 – Q

Patent

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G01Q 60/24 (2010.01)

Patent

CA 2563843

A quantum beam aided atomic force microscope and quantum beam aided atomic force microscopy that can realize simultaneously performing of atomic-level configuration observation and elemental analysis with the use of an atomic force microscope and further can effect analysis of the chemical state of sample surfaces and that as being operable in liquids, can realize the elemental analysis and chemical state analysis of biosamples with an atomic- level resolving power. Accordingly, atoms of sample surface are irradiated with quantum beams, such as charged particles, electrons and photons, having a given electron transition energy characteristic of element, and any change of interactive force between the atoms of sample surface having been irradiated with quantum beams and the distal end of the probe is detected.

Un microscope à force atomique assisté par faisceau quantique et de la microscopie à force atomique assistée par faisceau quantique qui peuvent réaliser simultanément l'exécution de l'observation de configurations à un niveau atomique et une analyse fondamentale grâce à l'utilisation d'un microscope à force atomique, et qui peuvent en outre effectuer l'analyse de l'état chimique de surfaces d'échantillons, et qui peuvent être réalisées dans des liquides, peuvent réaliser l'analyse fondamentale et l'analyse de l'état chimique de bio échantillons avec une puissance de résolution au niveau atomique. En conséquence, les atomes de la surface de l'échantillon sont irradiés avec des faisceaux quantiques, tels que des particules chargées, des électrons et des photons, présentant une caractéristique donnée de l'énergie de transition électronique de l'élément, et on détecte toute modification de la forte interaction entre les atomes de la surface de l'échantillon qui a été irradié avec les faisceaux quantiques ainsi que l'extrémité distale de la sonde.

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