G - Physics
01
S
G01S 13/00 (2006.01) G01S 7/03 (2006.01) G01S 7/40 (2006.01) G06K 9/32 (2006.01) G01S 13/34 (2006.01) G01S 13/93 (2006.01)
Patent
CA 2271154
A leakage calibration and removal system and method estimates the complex in- phase and quadrature phase (I/Q) components of a leakage signal for each beam location in the sampled down-converted radar signal in a radar system (10). In a digital embodiment, the stored leakage calibration signal (264) is subtracted (206) from the sampled radar signal, and the resultant signal is processed (208, 210, 212) to detect targets. A leakage calibration process (250) is activated if a leakage signal test (214) indicates a problem for a sufficient number of consecutive scans (216), wherein for each beam location, M consecutive I/Q waveforms are averaged (252), known targets are removed (254, 256, 258), and the resulting signal is scaled (262) and stored (264) as a new leakage calibration signal (364) is converted to analog form (366), subtracted (301) from the analog down-converted radar signal (300), and scaled by a variable gain (303) before the complex I/Q components are sampled therefrom (302, 304).
Cette invention se rapporte à un système et à un procédé d'étalonnage et de suppression de fuites, qui évaluent les composantes en phase et en quadrature de phase (I/Q) complexes d'un signal de fuite pour chaque position d'un faisceau dans le signal radar échantillonné de fréquence abaissée dans un système radar (10). Dans un mode de réalisation numérique, le signal d'étalonnage de fuite stocké (264) est soustrait (206) du signal radar échantillonné, et on traite (208, 210, 212) le signal qui en résulte, pour détecter les fuites. Un processus d'étalonnage de fuite (250) est activé si un test de signal de fuite (214) indique un problème pour un nombre suffisant de balayages consécutifs (216), de sorte que, pour chaque position du faisceau, on calcule la moyenne (252) de M formes d'ondes I/Q consécutives, on élimine (254, 256, 258) les cibles connues, et le signal résultant est mis à l'échelle (262) et stocké (264) comme le signal de fuite d'étalonnage (364) est converti sous forme analogique (366), soustrait (301) du signal radar analogique à fréquence abaissée (300) et mis à l'échelle par un gain variable (303) avant que les composantes I/Q complexes en soit échantillonnées (302, 304).
Farmer Michael E.
Jacobs Craig S.
Automotive Systems Laboratory Inc.
Macrae & Co.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1423844