Raman spectrometry apparatus and method

Details Raman spectrometry apparatus and method Raman spectrometry apparatus and method

G - Physics

01

J

G01J 3/44 (2006.01) G01J 3/28 (2006.01)

Patent

CA 2190627

A Raman spectrometry apparatus that is capable of measuring and compensating for variabilities in the apparatus comprises a source of substantially monochromatic radiation, means for simultaneously interfacing the radiation with a sample and a reference material, means for simultaneously acquiring at more than one wavelength a convolved Raman spectrum of the sample and the convolved spectrum of the reference material, and means for determining the convolution function of the convolved spectra and applying the convolution function to adjust the convolved Raman spectrum of the sample to produce thereby the standard Raman spectrum of the sample. A method for obtaining the standard Raman spectrum of a sample comprises: (a) simultaneous irradiating the sample and a reference material with a substantially monochromatic radiation source; (b) simultaneously acquiring at more than one wavelength a convolved Raman spectrum of the sample and a convolved spectrum of the reference material; (c) choosing the standard spectrum of the reference material; (d) from the convolved Raman spectrum of the sample and the convolved spectrum of the reference material and the standard spectrum of the reference material, determining the convolution function of the convolved spectra; and (e) applying the convolution function to adjust the convolved Raman spectrum of the sample to produce thereby the standard Raman spectrum of the sample.

Un appareil de spectrométrie Raman capable de mesurer et de compenser les variabilités de l'appareil se compose d'une source de rayonnement sensiblement monochromatique, de moyens permettant d'adapter le rayonnement à un échantillon et un matériau de référence, de moyens conçus pour acquérir simultanément à plus d'une longueur d'onde un spectre Raman à convolution de l'échantillon et un spectre Raman à convolution du matériau de référence, et de moyens pour déterminer la fonction de convolution des spectres à convolution et appliquer la fonction de convolution de manière à ajuster le spectre Raman à convolution de l'échantillon et à produire ainsi le spectre Raman standard de l'échantillon. Le procédé d'obtention du spectre Raman standard d'un échantillon consiste: (a) à irradier simultanément l'échantillon et un matériau de référence avec une source de rayonnement monochromatique; (b) à acquérir simultanément à plus d'une longueur d'onde un spectre Raman à convolution de l'échantillon et un spectre à convolution du matériau de référence; (c) à choisir le spectre standard du matériau de référence; (d) à déterminer la fonction de convolution des spectres à convolution à partir du spectre Raman à convolution de l'échantillon et du spectre de convolution du matériau de référence; et (e) à appliquer la fonction de convolution de manière à ajuster le spectre Raman à convolution et produire ainsi le spectre Raman standard de l'échantillon.

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