C - Chemistry – Metallurgy – 12 – Q
Patent
C - Chemistry, Metallurgy
12
Q
C12Q 1/04 (2006.01) C12M 1/34 (2006.01) C12Q 1/527 (2006.01) G01N 33/569 (2006.01)
Patent
CA 2229719
A rapid screening method for the detection and identification of target microorganisms in a sample which may contain both target microorganisms and competing non-target microorganisms includes the steps of enriching a sample in a mildly selective medium, incubating the sample in the growth medium for a predetermined amount of time, adding at least one inhibitor of the non-target microorganisms to the growth medium to discourage the growth of non-target microorganisms and to encourage the growth of target microorganisms. The method further includes the steps of incubating the sample in the growth medium including at least one inhibitor for a predetermined amount of time performing biochemical assays specific for the identification of the target microorganisms. and detecting the presence of the target microorganisms in the sample. The invention further provides a system for the rapid detection of microorganisms in a sample.
Une méthode rapide de sélection pour la détection et l'identification de microorganismes visés dans un échantillon qui peut contenir à la fois les microorganismes visés et des microorganismes concurrents non visés comporte les étapes suivantes : enrichir un échantillon dans un milieu faiblement sélectif, incuber l'échantillon dans le milieu de croissance pendant une période de temps déterminée, en ajoutant au moins un inhibiteur des microorganismes non visés dans le milieu de croissance afin de décourager le développement des microorganismes non visés et d'encourager celui des microorganismes visés. La méthode comporte également les étapes suivantes : incuber l'échantillon dans le milieu de culture comprenant au moins un inhibiteur pendant une période de temps déterminée, effectuer des dosages biochimiques spécifiques permettant d'identifier les microorganismes visés et détecter leur présence dans un échantillon.
Nagar Mandar S.
Schneider Maureen A.
Strenkoski Leon F.
Swamy Shoba C.
Becton Dickinson And Company
Gowling Lafleur Henderson Llp
LandOfFree
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