G - Physics – 06 – T
Patent
G - Physics
06
T
G06T 15/50 (2006.01)
Patent
CA 2449690
A system and method for generating sample points that can generate the sample points in parallel. The sample points can be used in processing in parallel, with the results subsequently collected and used as necessary in subsequent rendering operations. Sample points are generated using a coarse Halton sequence, which makes use of coarse radical inverse values Fbi,M (j) as in formula 11. where base "b" is preferably a prime number, but not a divisor of "M" and "i" is an integer. Using this definition, the s-dimensional coarse Halton sequence UsChal,i,M, which may be used to define sample points for use in evaluating integrals, is defined as in formula 12.where b1,...,bs are the first "s" prime numbers that are not divisors of "M". Each value of "i" defines a subsequence that is a low-discrepancy sequence, and so can be used in connection with processing. Similarly, the union of all subsequences for all values of "i" between "zero" and "M-1" is also a low-discrepancy sequence, so results of processing using the coarse Halton sequences for all such values of "i" can be collected together and used in the same manner as if the results had been generated using a Halton sequence to define the sample points,
L'invention concerne un système et une méthode qui permettent de générer des points échantillons en parallèle. Ces points échantillons peuvent être utilisés pour des traitements en parallèle dont les résultats sont recueillis ultérieurement et utilisés au besoin dans des opérations de rendu ultérieures. Les points échantillons sont générés au moyen d'une séquence grossière de Halton qui utilise des valeurs inverses radicales grossières F¿b??i¿,?M¿ (j) tels que dans la formule (11), dans laquelle la base "b" représente de préférence un nombre premier et non un diviseur de "M" et "i" représente un entier. Selon cette définition, la séquence grossière de Halton s-dimensionnelle U¿s??Chal,i,M¿, qui peut être utilisée pour définir des points échantillons servant à l'évaluation d'intégrales, est définie telle que dans la formule (12), dans laquelle b¿1?,...,b¿s? représentent les premiers nombres premiers "s" qui ne sont pas des diviseurs de "M". Chaque valeur de "i" définit une sous-séquence qui est une séquence à faible divergence et qui peut donc être utilisée en rapport avec le traitement. De même, l'union de toutes les sous-séquences pour toutes les valeurs de "i" entre "zéro" et "M-1" est une séquence à faible divergence, de sorte que les résultats du traitement utilisant les séquences grossières de Halton pour toutes ces valeurs de "i" puissent être recueillis ensemble et utilisés de la même façon, comme si les résultats avaient été générés à l'aide d'une séquence de Halton afin de définir les points échantillons.
Deeth Williams Wall Llp
Mental Images Gmbh
Nvidia Corporation
LandOfFree
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