G - Physics – 11 – B
Patent
G - Physics
11
B
G11B 20/18 (2006.01) G11B 7/005 (2006.01) G11B 20/14 (2006.01)
Patent
CA 2707185
A reproduction signal evaluation method according to the present invention includes a step of generating a binary signal from an information recording medium on which a data sequence including marks and spaces in combination is recordable, using a PRML signal processing method from a signal obtained by reproducing the data sequence; and a differential calculation step of calculating a differential metric using a first state transition path having a maximum likelihood and a second state transition path having a second maximum likelihood, and a reproduction signal, the first state transition path and the second state transition path being obtained based on the binary signal. In a pattern including a shortest mark and a shortest space adjacent before or after the shortest mark, a shift amount of an edge of the shortest mark is obtained from a differential metric calculated regarding one of a first pattern in which a space adjacent to the shortest mark and not adjacent to the shortest space is longer than the shortest space; and a second pattern in which a mark adjacent to the shortest space and not adjacent to the shortest mark is longer than the shortest mark.
La présente invention concerne un procédé d'évaluation d'un signal reproduit qui comprend une étape consistant à générer un signal binaire au moyen d'un traitement de signal PRML à partir du signal généré par la reproduction d'une séquence de données qui est une combinaison de marques et d'espaces et qui est enregistrée sur un support d'enregistrement d'informations sur lequel la séquence de données peut être enregistrée, et une étape de calcul de différence consistant à calculer une métrique de différence en utilisant les première et seconde séquences de transition d'état les plus probables obtenues à partir du signal binaire et en utilisant le signal reproduit. La variation de la position du bord de la marque la plus courte dans une séquence où l'espace le plus court est adjacent à la marque la plus courte, et se situe devant ou derrière celle-ci, est déterminée à partir de la métrique de différence calculée d'une première séquence où la longueur de l'espace adjacent à la marque la plus courte et non adjacent à l'espace le plus court est supérieure à l'espace le plus court ou d'une seconde séquence où la longueur de la marque adjacente à l'espace le plus court et non adjacente à la marque la plus courte est plus longue que la marque la plus courte.
Hino Yasumori
Ito Kiyotaka
Kobayashi Isao
Miyashita Harumitsu
Osler Hoskin & Harcourt Llp
Panasonic Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2058436