Rf-only mass spectrometer with auxiliary excitation

Details Rf-only mass spectrometer with auxiliary excitation Rf-only mass spectrometer with auxiliary excitation

H - Electricity

01

J

H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2287499

An RF-only quadrupole mass spectrometer in which an auxiliary RF field (dipole or quadrupole) excites selected ions at low q (typically between 0.20 and 0.89). The excited ions experience radial excursions, but many do not experience excursions sufficient to strike the rods, and are therefore transmitted and acquire increased kinetic energy in the fringing fields at the exit ends of the rods. The excited ions may therefore be selected from the non-excited ions either by their increased axial kinetic energy, or by their radial dispersion, or both, and are detected for analysis, producing sharp peaks of high sensitivity at low q, while retaining the high acceptance and other advantages of RF-only mass spectrometers. Operated in converse fashion, a high quality notch filter can be achieved. In the notch filter, an auxiliary RF field again excites ions and notches some of them out by causing them to strike the rods. Ions which are not notched out but which are nevertheless excited by the auxiliary field are discriminated against, again either by reason of their higher axial kinetic energy or their spatial dispersion or both, so that only ions on axis are detected, producing a high resolution high sensitivity notch filter.

L'invention concerne un spectromètre de masse quadrupolaire uniquement RF dans lequel un champ RF auxiliaire (dipole ou quadrupole) excite des ions sélectionnés à faible q (généralement entre 0,20 et 0,89). Les ions excités subissent des excursions radiales mais beaucoup ne subissent pas d'excursions suffisantes pour heurter les barres, et par conséquent ils sont transmis et ils acquièrent une énergie cinétique accrue dans les champs de bord aux extrémités de sortie des barres. Les ions excités peuvent par conséquent être sélectionnés parmi les ions non excités soit par leur énergie cinétique axiale accrue, soit par leur dispersion radiale, soit par les deux, et ils sont détectés à des fins d'analyse produisant des crêtes en pointe de haute intensité à faible q, tout en conservant leur degré élevé d'admission ainsi que d'autres avantages des spectromètres de masse uniquement RF. Utilisé en mode inverse, le spectromètre permet d'obtenir un filtre coupe-bande à bande étroite de haute qualité. Dans le filtre coupe-bande, un champ RF auxiliaire excite également des ions et en coupe certains en les faisant heurter les barres. Les ions qui ne sont pas coupés mais qui toutefois sont excités par le champ auxiliaire sont distingués, à nouveau soit en raison de leur énergie cinétique axiale supérieure soit en raison de leur dispersion spatiale ou bien les deux, de manière que seuls les ions dans l'axe sont détectés, produisant un filtre coupe-bande de haute résolution à sensibilité élevée.

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