Sample analysis system

G - Physics – 01 – N

Patent

Rate now

  [ 0.00 ] – not rated yet Voters 0   Comments 0

Details

G01N 23/20 (2006.01) H05G 1/02 (2006.01)

Patent

CA 2686231

A hair sample analysis system; said system comprising multiple sample arrays located within a container, an automated drive mechanism for removing an individual array from said container and for urging a. hair sample of said sample array to a first approximate location, and a monitoring and control system, for adjustment of said drive mechanism to locate said hair sample into substantial coincidence with an X-ray diffraction beam; locating said sample in substantial coincidence with said X-ray diffraction beam; irradiating said sample with said beam for a predetermined time; receiving and storing for analysis data derived from said step of irradiating said hair sample; repeating said steps for a consecutive one of said hair 5 samples from said sample array; returning said sample array to its original location in said container and removing another array from said sample container and repeating said steps for consecutive arrays.

La présente invention concerne un système d'analyse d'échantillons de cheveux. Ce système comprend de multiples plaques porte-échantillons regroupées dans un réceptacle, un mécanisme d'entraînement automatique permettant de retirer une plaque porte-échantillons dudit réceptacle et de faire avancer un échantillon de cheveu de ladite plaque porte-échantillons jusqu'à un premier endroit proche, ainsi qu'un système de suivi et de contrôle, permettant de régler ledit mécanisme d'entraînement afin qu'il fasse essentiellement coïncider ledit échantillon de cheveu avec un faisceau de rayons X diffracté. Suivent les étapes suivantes: dépôt de l'échantillon de cheveu de façon à le faire essentiellement coïncider avec ledit faisceau de rayons X diffracté; exposition dudit échantillon audit faisceau pendant une durée prédéterminée; réception et du stockage des données issues de ladite étape d'exposition dudit échantillon de cheveu en vue de leur analyse; répétition desdites étapes pour chacun des 5 échantillons de cheveux de la plaque porte-échantillons; remise en place de la plaque porte-échantillons sur son emplacement d'origine dans le réceptacle et du prélèvement d'une autre plaque porte-échantillons dans ledit réceptacle, puis répétition des étapes pour plusieurs plaques porte-échantillons d'affilée.

LandOfFree

Say what you really think

Search LandOfFree.com for Canadian inventors and patents. Rate them and share your experience with other people.

Rating

Sample analysis system does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Sample analysis system, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Sample analysis system will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

     

Profile ID: LFCA-PAI-O-1901876

  Search
All data on this website is collected from public sources. Our data reflects the most accurate information available at the time of publication.