Scattering parameter calibration system and method

Details Scattering parameter calibration system and method Scattering parameter calibration system and method

G - Physics

01

R

G01R 23/00 (2006.01) G01R 27/28 (2006.01) G01R 35/00 (2006.01)

Patent

CA 2361666

A system and method of calibrating an S parameter measurement instrument (such as a vector network analyzer) in which the number of calibrations required to fully characterize the error model of an n-port system is n/2 calibrations for an even number of ports and (n+1)/2 calibrations for an odd number of ports. Each test port in the system is involved in at least one full calibration, thus n/2 test paths are fully calibrated. For each measured test path, the error terms of the applicable error model are calculated. These error teens are then decoupled from the associated test path into error parameters that are localized to the individual test ports of the test path. Having localized the error parameters, the error model for each test port can then be treated independently from the other test ports. The error terms for the test paths that are not calibrated are then constructed using the localized error parameters for the individual test ports.

La présente invention concerne un système et un procédé d'étalonnage d'un instrument de mesure à coefficient de dispersion, notamment dans le cas d'un analyseur de réseau vectoriel. En l'occurrence, le nombre d'étalonnages nécessaire à la caractérisation complète du modèle d'erreur d'un système à n ports est de n/2 étalonnages pour un nombre pair de ports et de (n+1)/2 étalonnages pour un nombre impair de ports. Chaque port de test du système est impliqué dans au moins un étalonnage complet, ce qui fait un étalonnage complet de n/2 chemins de test. Le procédé consiste à calculer pour chaque chemin de test les termes d'erreur du modèle d'erreur applicable. On découple ensuite ces termes d'erreur des chemins de test associés de façon à donner des paramètres d'erreur localisés aux différents ports de test du chemin de test. Une fois que les paramètres d'erreur sont localisés, on peut traiter le modèle d'erreur de chacun des ports de test indépendamment des autres ports de test. Il ne reste plus qu'à se servir des paramètres d'erreur localisés des différents ports de test pour construire les termes d'erreur des chemins de test qui n'ont pas été étalonnés.

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