H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/00 (2006.01)
Patent
CA 2679113
An ion trap is provided with at least two discrete trapping regions or segments. Both segments are located in a vacuum chamber of a mass spectrometer system. An entrance of the ion trap is disposed downstream to a laser based ionization source to receive the ions with a wide range of kinetic energies that have been generated by the laser-based ionization source. Once sufficient ions have been accumulated in the first segment and sufficient time has passed to cool the ions, they are transferred to the second segment and ultimately ejected through an aperture or slot to a detector arrangement to produce a mass spectrum.
Un piège à ions comporte au moins deux régions ou segments de piégeage discrets. Les deux segments se trouvent dans une chambre sous vide d'un système de spectrométrie de masse. L'entrée du piège à ions est disposée en aval d'une source d'ionisation basée sur un laser pour recevoir les ions et une large gamme d'énergies cinétiques sont générées par cette source d'ionisation basée sur un laser. Une fois qu'un nombre suffisant d'ions ont été accumulés dans le premier segment et qu'une durée suffisante s'est écoulée pour refroidir les ions, ils sont transférés au second segment et enfin éjectés par une ouverture ou fente vers un montage de détection pour produire un spectre de masse.
Freedman Gordon
Thermo Finnigan Llc
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1931356