G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 1/28 (2006.01) G01V 1/30 (2006.01) G01V 1/36 (2006.01)
Patent
CA 2412995
A method of analysing seismic survey data in which a transfer function for a geological model is derived by ray tracing techniques applied to theoretical data and the transfer function is applied to actual survey data in order to calculate reflection points (50) and/or other attributes for each shot (42)/receiver (44) pair. The number of ray tracing calculations which have to be performed in deriving the model transfer function can thus be controlled. A sufficiently accurate transfer function can be derived using theoretical data representing substantially fewer shot (42)/receiver (44) pairs than are used in the traditional ray tracing solution applied directly to actual survey data. Attribute values for actual source (42)/receiver (44) pairs are estimated by interpolating the transfer function data.
Procédé pour analyser les données de relevés sismiques selon lequel une fonction de transfert pour un modèle géologique est dérivée par des méthodes de tracé des rayons, appliquées aux données théoriques, la fonction de transfert étant appliquée aux données réelles de relevés sismiques pour calculer les points de réflexion (50) et/ou d'autres attributs pour chaque paire coup (42) / récepteur (44). On peut aussi contrôler le nombre de calculs par tracé des rayons, nécessaires pour dériver la fonction de transfert de modèle. On peut dériver une fonction de transfert suffisamment précise en utilisant les données théoriques représentant un nombre sensiblement réduit de paires coup (42) / récepteur (44) par rapport à la solution traditionnelle utilisant le tracé des rayons et appliqué directement aux données réelles de relevés. Les valeurs d'attributs pour les paires réelles coup (42) / récepteur (44) sont estimées par l'interpolation des données de la fonction de transfert.
Faichney Alan
Hupkens Erik
Watt Keith
Concept Systems Limited
Fetherstonhaugh & Co.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1689837