G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/47 (2006.01) G01N 21/55 (2006.01)
Patent
CA 2551670
A self-calibrating optical reflectance probe system having an illuminant light source to illuminate a sample material, optical pickup means to collect reflected light from the sample material, and an articulated white reference reflection standard for illuminant reference to provide a system capable of accurately measuring optical reflectance and automated verification of proper operation. The probe system preferably employs an uncomplicated mount using a single pipe fitting and clamp.
L'invention concerne un système de sonde à facteur de réflexion optique à étalonnage automatique comprenant une source lumineuse d'éclairage servant à éclairer une matière d'échantillon, des moyens de préhension optiques pour collecter la lumière réfléchie provenant de la matière d'échantillon, et un dispositif articulé de norme de réflexion de référence blanche comme référence d'éclairage, ces éléments formant un système qui permet de mesurer précisément le facteur de réflexion optique et comporte une vérification automatique du fonctionnement correct du système. Ce système de sonde utilise de préférence une structure simple comprenant un raccord de tuyau unique et une bride.
Control Development Incorporated
Craig Wilson And Company
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2038202