Semiconductor test chip with on-wafer switching matrix

Details Semiconductor test chip with on-wafer switching matrix Semiconductor test chip with on-wafer switching matrix

G - Physics

01

R

G01R 31/26 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01) G06F 11/273 (2006.01)

Patent

CA 2203782

A semiconductor test chip comprises an array of active semiconductor devices to be individually tested, a plurality of test lines for connection to external test circuitry, an enabling circuit associated with each device for selectively connecting it to the test lines, an input for receiving an instruction identifying a device that it is desired to test, and a decoder incorporated into the chip for receiving the instruction from the input. The decoder is connected by enabling lines to the individual test devices so that on receipt of an instruction the decoder enables the identified test device such that it becomes connected to the test lines. This circuit is more efficient and less cumbersome than the prior art.

La présente invention concerne une puce de contrôle de semiconducteurs qui comporte un ensemble de dispositifs semiconducteurs actifs que l'on doit contrôler individuellement, plusieurs lignes de contrôle qui servent aux connexions avec les circuits de contrôle extérieurs, un circuit de validation associé à chaque dispositif pour le relier de façon sélective aux lignes de contrôle, une entrée qui reçoit une instruction qui identifie un dispositif que l'on désire contrôler et un décodeur incorporé à la puce et qui reçoit l'instruction en provenance de l'entrée. Le décodeur est relié par des lignes de validation aux différents appareils de contrôle, de telle sorte que, à la réception d'une instruction, le décodeur permet à l'appareil de contrôle identifié d'être relié aux lignes de contrôle. Ce montage est plus efficace et moins encombrant que ceux qui correspondent à l'état de la technique.

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