Sensor apparatus

Details Sensor apparatus Sensor apparatus

H - Electricity

04

N

H04N 5/217 (2006.01) H04N 3/15 (2006.01) H04N 5/33 (2006.01)

Patent

CA 2304500

The invention provides a sensor apparatus (200) with compensated signal processing for generating a sensor signal corresponding to a filtered image of a scene. The apparatus (200) incorporates a multielement array (52) for providing at each element (58) first and second signals in response to first and second scene images projected onto it and a lens assembly (204) for projecting the images onto the array (52). Each element (58) is connected to an associated circuit (300). Each circuit (300) perfoms a subtraction of the first and second signals of its associated element from one another to provide a difference signal and supply this signal for use in generating the sensor signal. Each circuit (300) incorporates a transistor (T17) for injecting charge to compensate at least partially for subtraction accuracy degrading parasitic charge injection occurring within the circuit (300) when the apparatus (200) switches between projecting the first image and the second image onto the array (52).

L'invention concerne un système de détection (200) muni d'un circuit de traitement du signal compensé pour générer un signal de détection correspondant à une image filtrée d'une scène. Ce système (200) incorpore un réseau multiélément (52) qui émet pour chaque élément (58) un premier signal et un deuxième signal en réponse à une première image et une deuxième image projetées sur ledit système, et un ensemble objectif (204) pour projeter les images sur le réseau (52). Chaque élément (58) est connecté à un circuit associé (300). Chaque circuit (300) effectue une soustraction réciproque du premier signal et du deuxième signal de son élément associé pour produire un signal différentiel qui est ensuite utilisé pour générer le signal de détection. Chaque circuit (300) incorpore un transistor (T¿17?) pour injecter une charge pouvant compenser au moins partiellement l'injection de charge parasite qui survient à l'intérieur du circuit (300) et dégrade la précision de la soustraction lorsque le système (200) commute entre la projection de la première image et celle de la deuxième image sur le réseau (52).

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