Sensor system

Details Sensor system Sensor system

H - Electricity

04

N

H04N 5/217 (2006.01) H04N 3/15 (2006.01) H04N 5/33 (2006.01)

Patent

CA 2304725

The invention provides a sensor system (800) for generating a sensor signal (Sout) corresponding to a filtered image of a scene. The system (800) incorporates a multielement array (526) and associated processing circuits for providing element signals in response to images projected onto it and a projecting lens assembly (502) for projecting images onto the array (526). The lens assembly (502) projects differently blurred images of the scene onto the array (526) for generating a measurement signal during a measurement phase and a local spatial average correction signal during a calibration phase. A light- diffusing shutter (522) is used for generating the differently blurred images. The system (800) substracts the measurement and correction signals of each element from one another to provide a difference signal and uses this signal to generate the sensor signal (Sout) during the measurement phase. The calibration phase is repeated on change of array temperature or incident radiation intensity, thereby reducing fixed pattern noise in the sensor signal (Sout) despite environmental change, and interrupting the measurement phase only infrequently.

L'invention concerne un système de détection (800) qui émet un signal de détection (S¿out?) correspondant à une image filtrée d'une scène. Ce système (800) incorpore un réseau multiélément (526) et des circuits de traitement associés pour générer des signaux d'élément en réponse à des images projetées sur ledit système, et un ensemble objectif de projection (502) pour projeter des images sur le réseau (526). Cet ensemble objectif (502) projette des images différemment brouillées de la scène sur le réseau (526) pour générer un signal de mesure pendant une phase de mesure et un signal local de correction de moyenne spatiale pendant une phase d'étalonnage. Un obturateur diffuseur (522) est utilisé pour générer lesdites images différemment brouillées. Le système (800) soustraie inversement les signaux de mesure et de correction de chaque élément pour produire un signal différentiel, et utilise ce signal pour générer un signal de détection (S¿out?) pendant la phase de mesure. La phase d'étalonnage est répétée à chaque changement de température du réseau ou d'intensité de rayonnement incident, ce qui entraîne, d'une part, une réduction du bruit pseudo-aléatoire fixe dans le signal de détection (S¿out?) nonobstant un changement d'environnement et, d'autre part, une interruption peu fréquente de la phase de mesure.

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