G - Physics
01
B
G01B 11/16 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) G01D 5/353 (2006.01) G01K 5/52 (2006.01) G01K 11/32 (2006.01)
Patent
CA 2167066
A sensor system (10) in an interferometric arrangement has a sensor arm (24) and a reference arm (28). The reference arm (28) is in a stable environment and the sensor arm (24) is arranged to be subject to variations in strain and/or temperature. Radiation from a broadband source (12) propagates through the arrangement and a broadband interferogram is generated as an air gap (114) is scanned. The grammeter is recorded on an oscilloscope (126) and analysed using signal processing software on a computer (128). From the analysis the changes in group delay and optical dispersion of the light in the sensor arm (24) due to strain and temperature changes is measured, and values for the strain and/or temperature changes calculated. A narrowband light source (86) may be used for accurate calibration of path length differences during scanning. The strain and temperature on the sensor arm (24) may be calculated or tested using clamps (30, 32) and a thermal enclosure (34). The system may also be configured in a tandem interferometry arrangement (200) including a sensing interferometer (202) and reference interferometer (204).
Système de capteur (10) intégré dans un dispositif interférométrique comprenant un bras (24) de capteur et un bras de référence (28). Le bras de référence (28) se situe dans un environnement stable et le bras (24) de capteur est placé de manière à subir les variations de contraite et/ou de température. Le rayonnement provenant d'une source à large bande (12) se propage dans le dispositif et un interférogramme à large bande est généré à mesure qu'un intervalle (114) est balayé. L'interférogramme est enregistré sur un oscilloscope (126) et analysé sur un ordinateur (128) par un logiciel de traitement du signal. A partir des données d'analyse les variations du temps de propagation de groupe et de la dispersion optique de la lumière dans le bras (24) de capteur provoquées par les variations des contraintes et de la température sont mesurées, et des valeurs associées aux variations des contraintes et/ou de la température sont calculées. Une source (86) de lumière à bande étroite peut être utilisée pour étalonner avec précision les différences de longueur de trajet pendant le balayage. Les contraintes et la température qui s'appliquent sur le bras (24) de capteur peuvent être étalonnées ou testées à l'aide de pinces (30, 32) et d'un boîtier thermique (34). Le système peut également être configuré dans un dispositif d'interférométrie en tandem (200) comprenant un interféromètre de détection (202) et un interféromètre de référence (204).
Burnett James Gordon
Greenaway Alan Howard
Jones Julian David Clayton
Mcbride Roy
Fetherstonhaugh & Co.
Qinetiq Limited
LandOfFree
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