G - Physics – 05 – B
Patent
G - Physics
05
B
G05B 9/02 (2006.01) G01D 3/028 (2006.01) G01D 18/00 (2006.01) G05B 23/02 (2006.01)
Patent
CA 2340977
An apparatus and method is disclosed for detecting, identifying, and classifying faults occurring in sensors measuring a process. If faults are identified in one or more sensors, the apparatus and method provide replacement values for the faulty sensors so that any process controllers and process monitoring systems that use these sensors can remain in operation during the fault period. The identification of faulty sensors is achieved through the use of a set of structured residual transforms that are uniquely designed to be insensitive to specific subsets of sensors, while being maximally sensitive to sensors not in the subset. Identified faults are classified into one of the types Complete Failure, Bias, Drift, Precision Loss, or Unknown.
La présente invention concerne un dispositif et un procédé de détection, d'identification et de classification des défauts que présentent des capteurs lors de mesures dans un procédé. Si des défauts sont identifiés dans un ou plusieurs capteurs, le dispositif et le procédé donnent, pour les capteurs défectueux, des valeurs de remplacement de manière à ce que tout régulateur de procédé et tout système de surveillance de procédé qui utilise ces capteurs puisse fonctionner durant cette période de défauts. L'identification des capteurs défectueux est réalisée au moyen d'un ensemble de transformées résiduelles structurées conçues uniquement de manière à être insensibles à des sous-ensembles spécifiques de capteurs, tout en étant extrêmement sensibles à des capteurs qui ne font pas partie du sous-ensemble. Les défauts identifiés sont classifiés en l'un des types: défectuosité complète, défaut de justesse, dérive, perte de précision, ou inconnu.
Guiver John
Qin S. Joe
Aspen Technology Inc.
Borden Ladner Gervais Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1737509