Single and multiple operating mode ion sources with...

H - Electricity – 01 – J

Patent

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H01J 49/04 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)

Patent

CA 2725612

An Atmospheric Pressure Chemical Ionization (APCI) source interfaced to a mass spectrometer is configured with a corona dis-charge needle positioned inside the APCI inlet probe assembly Liquid sample flowing into the APCI inlet probe is nebulized and vaporized prior to passing through the corona discharge region all contained in the APCI inlet probe assembly Ions produced in the corona discharge region are fo-cused toward the APCI probe centerline to maximize ion transmission through the APCI probe exit External electric fields penetrating into the APCI probe exit end opening providing additional center line focusing of sample ions exiting the APCI probe The APCI probe is configured to shield the electric field from the corona discharge region while allowing penetration of an external electric field to focus APCI generated ions into an orifice into vacuum for mass to charge analysis Ions that exit the APCI probe are directed only by external electric fields and gas flow maximizing ion transmission into a mass to charge analyzer The new APCI probe can be configured to operate as a stand alone APCI source inlet probe, as a reagent ion gun for ionizing samples introduced on solids or liquid sample probes or through gas inlets in a multiple function ion source or as the APCI portion of a combination Electrospray and APCI multiple function ion source Sample ions and gas phase reagent ions are generated in the APCI probe from liquid or gas inlet species or mixtures of both

L'invention concerne une source pour ionisation chimique à pression atmosphérique (APCI) interfacée avec un spectromètre de masse et munie d'une aiguille à effluve positionnée à lintérieur de lensemble de sonde dentrée APCI. Un échantillon liquide entrant dans la sonde dentrée APCI est nébulisé et vaporisé avant de traverser la région deffluve entièrement contenue dans lensemble de sonde dentrée APCI. Des ions produits dans la région deffluve sont concentrés vers laxe de symétrie de la sonde APCI afin de maximiser la transmission dions à travers la sortie de la sonde APCI. Des champs électriques externes pénétrant dans louverture de lextrémité de sortie de la sonde APCI assurent une concentration supplémentaire sur laxe de symétrie des ions déchantillon sortant de la sonde APCI. La sonde APCI est configurée de façon à contenir le champ électrique hors de la région deffluve tout en permettant la pénétration dun champ électrique externe pour concentrer les ions générés par lAPCI dans un orifice donnant sur un vide en vue dune analyse du rapport masse-charge. Les ions quittant la sonde APCI ne sont dirigés que par les champs électriques externes et lécoulement du gaz, maximisant la transmission des ions dans un analyseur masse / charge. La nouvelle sonde APCI peut être configurée de façon à fonctionner comme sonde dentrée à source APCI indépendante, comme canon à ions de réactif pour ioniser des échantillons introduits sur des sondes à échantillons solides ou liquides ou à travers des entrées de gaz dans une source dions multifonctions, ou comme la partie APCI dune source dions multifonctions combinant électronébulisation et APCI. Des ions déchantillon et des ions de réactifs en phase gazeuse sont générés dans la sonde APCI à partir despèces et / ou de mélanges de liquides ou de gaz dentrée.

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