G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/63 (2006.01) G01N 15/02 (2006.01)
Patent
CA 2477390
The method and apparatus of laser-induced incandescence (LII) to analyze characteristics of submicron-sized particles are described. LII is recognized as a good tool for determining the characteristics of small particles in a gas, e.g., volume fraction, particle size, and specific surface area. It uses the fact that the incandescence signal is proportional to the volume of the particles. It also uses the fact that transient cooling is dependent on the specific surface area of the particle, which is related to diameter of the particle. In LII, particles are heated by a pulsed laser light beam to a temperature where incandescence from the particles can be distinguished from ambient light. The temperature of particles and their volume fraction governs the incandescence. The temperature decay rate is proportional to the primary particle size. The invention uses an optical arrangement that ensures a near-uniform laser energy distribution spatial profile. The invention also uses a low fluence laser beam pulse to avoid evaporation of particles. Without significant evaporation and with a uniform energy profile, accurate and precise measurements can be conducted more easily and reliably.
La présente invention décrit une méthode et un dispositif à incandescence induite par laser (LII) pour l'analyse des caractéristiques de particules de la taille d'ultramicrons. L'incandescence LII est reconnue comme étant un bon outil pour déterminer les caractéristiques de petites particules dans un gaz, p. ex. une fraction volumique, la grosseur des particules, et des zones de surface particulières. Cette méthode fait appel au fait que le signal d'incandescence est proportionnel au volume des particules. Elle exploite également le fait que le refroidissement transitoire dépend de la zone de surface particulière de la particule, qui est liée au diamètre de la particule en question. Dans la méthode LII, les particules sont chauffées par un faisceau laser pulsé à une température où l'incandescence des particules peut être distinguée de la lumière ambiante. La température des particules et leur fraction volumique déterminent l'incandescence. Le taux de décroissance de la température est proportionnel à la grosseur primaire des particules. L'invention fait appel à une disposition optique qui assurer un profil spatial de répartition de l'énergie laser presque uniforme. En l'absence d'évaporation sensible et avec un profil énergétique uniforme, il est possible de prendre des mesures exactes et précises plus facilement et de manière plus fiable.
Guelder Oemer L.
Liu Fengshan
Smallwood Gregory J.
Snelling David R.
Guelder Oemer L.
National Research Council Of Canada
Teitelbaum & Maclean
LandOfFree
Small particle analysis by laser induced incandescence does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Small particle analysis by laser induced incandescence, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Small particle analysis by laser induced incandescence will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1435848