G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 1/04 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01)
Patent
CA 2675435
A sample piece collection method is a method of collecting a sample piece from a surface (114a) of a blade. The method forms a tubular cut by sending an ultrasonic cutter, having a circular tube-like cutting blade, in a portion from the surface (114a) of the blade up to a surface (100a) of a base material (100) to cut the portion. The cut is further cut to be expanded outward, and then the surface is cut inward from the circular tube-like cut by a rotary cutter (220) having a disc-like cutting blade (222). By this, a portion (20a) located on the inside of the cut is cut away, and the portion (20a) is used as a sample piece.
Le procédé de collecte d'échantillon selon l'invention est en fait un procédé de collecte d'un échantillon à partir d'une surface (114a) d'une aube. Le procédé consiste à former une découpe tubulaire en faisant circuler un dispositif de coupe à ultrasons, ayant une lame de coupe en forme de cylindre, dans une partie allant de la surface (114a) de l'aube à une surface (100a) d'un matériau de base (100) de façon à couper la partie. La découpe est en outre découpée de façon à être prolongée vers l'extérieur et la surface est découpée vers l'intérieur à partir de la découpe en forme de cylindre par un dispositif de coupe rotatif (220) ayant une lame de coupe en forme de disque (222). Une partie (20a) située sur l'intérieur de la découpe est donc découpée de la sorte, puis la partie (20a) est utilisée comme échantillon.
Kasumi Soji
Naito Takeshi
Oguma Hidetaka
Okada Ikuo
Sakon Toshio
Mitsubishi Heavy Industries Ltd.
Riches Mckenzie & Herbert Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1644876