Spectrophotometric analysis

Details Spectrophotometric analysis Spectrophotometric analysis

G - Physics

01

N

G01N 21/01 (2006.01) G01J 3/02 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01) G01N 21/51 (2006.01)

Patent

CA 2204302

Apparatus for spectrophotometric analysis of a material P in a container 16 by reflectance of a beam 4 applied to the material through aperture 11 in a primary mask 9. A restricted beam 12 resulting from the mask 9 is applied through a port 13 in an opaque secondary mask 10 to the material P. The beam 12 is wholly within the port 13 and radiation reflected from the material P passes through the port 13 to detectors 7 for analysis. The mask 10 defines by its port 13 an area on the base 17 of the container through which the beam 12 is applied to the material P and is not subjected to spurious reflections and refractions otherwise created by the container 16 between its base 17 and side wall 18. The container 16 may be spaced from the mask 10 and inclined relative thereto so that the mask 10 shields the top and bottom ends of the container 16. The invention also includes a conversion kit with masks 9 and 10 for fitting to existing spectrophotometers and an apparatus by which an array of containers 16 can be fed successively and automatically to overlie port 13 for analysis and thereafter removed.

L'invention est un appareil servant à effectuer une analyse spectrophotométrique d'un matériau P conservé dans un contenant 16, cet appareil utilisant la réflexion d'un faisceau (4) irradiant le matériau P par une ouverture 11 pratiquée dans un masque primaire 9. Un faisceau restreint 12 produit par le masque 9 irradie le matériau P via un port 13 pratiqué dans un masque secondaire 10. Ce faisceau 12 se trouve entièrement à l'intérieur du port 13 et le rayonnement réfléchi par le matériau P traverse le port 13 et tombe sur des détecteurs 7 pour fins d'analyse. Par l'intermédiaire de son port 13, le masque 10 définit à la base 17 du contenant une zone dans laquelle le faisceau 12 tombe sur le matériau P, lequel n'est alors soumis à aucune réflexion ou aucune réfraction parasite créée par le contenant 16 entre sa base 17 et sa paroi 18. Le contenant 16 peut être espacé du masque 10 et incliné par rapport à ce dernier qui peut alors servir d'écran aux parties supérieure et inférieure du contenant 16. L'invention comporte également un kit de conversion contenant des masques 9 et 10 s'adaptant aux spectrophotomètres courants, ainsi qu'un instrument permettant d'alimenter un réseau de contenants 16 successivement pour recouvrir le port 13 aux fins de l'analyse et de les retirer ensuite.

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