Statistical tomographic reconstruction based on measurements...

G - Physics – 01 – T

Patent

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G01T 1/16 (2006.01) G01T 1/00 (2006.01)

Patent

CA 2667446

Systems, apparatus, computer program products and methods for charged particle detection including statistical reconstruction of object volume scattering density profiles from charged particle tomographic data to determine the probability distribution of charged particle scattering using a statistical multiple scattering model and determine a substantially maximum likelihood estimate of object volume scattering density using expectation maximization (ML/EM) algorithm to reconstruct the object volume scattering density. The presence of and/or type of object occupying the volume of interest can be identified from the reconstructed volume scattering density profile. The charged particle tomographic data can be cosmic ray muon tomographic data from a muon tracker for scanning packages, containers, vehicles or cargo. Such a method can be implemented using a computer program which is executable on a computer.

L'invention concerne des systèmes, un appareil, des produits de programme d'ordinateur et des procédés de détection de particules chargées. Lesdits procédés comprennent la reconstruction statistique de profils de densité de diffusion d'un volume objet à partir de données tomographiques de particules chargées pour déterminer la distribution de probabilité de diffusion de particules chargées à l'aide d'un modèle statistique à diffusions multiples et pour déterminer une estimation de probabilité sensiblement maximale de densité de diffusion du volume objet à l'aide d'un algorithme de maximisation de prévision (ML/EM) pour reconstruire la densité de diffusion du volume objet. La présence et/ou le type de l'objet occupant le volume d'intérêt peut être identifié(e) à partir du profil de densité de diffusion de volume reconstruit. Les données tomographiques de particules chargées peuvent être constituées de données tomographiques de muon de rayon cosmique provenant d'un spectromètre à muon pour balayer des emballages, des récipients, des véhicules ou des marchandises. Un tel procédé peut être mis en AEuvre à l'aide d'un programme d'ordinateur exécutable par ordinateur.

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