System analysis process

G - Physics – 06 – F

Patent

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Details

G06F 11/30 (2006.01)

Patent

CA 2144032

Un procédé d'analyse de système à l'aide d'un ensemble de jauges. Mesure de l'état d'un système. Ce procédé se prête par exemple à l'analyse d'un système de gestion de base de données. Une fonction de jauge, une valeur de seuil et une recommandation sont associées à au moins une partie des jauges. Chaque fonction de jauge retourne une valeur caractérisant l'état du système analysé, et, selon la relation logique entre la valeur retournée et la valeur de seuil, une recommandation est émise à l'intention de l'utilisateur du système. Les jauges d'analyse d'un système sont regroupées en investigations. Le procédé peut être adapté à l'analyse d'un système quelconque en éditant un fichier de données ASCII contenant la liste des jauges, des désignations des fonctions associées, des seuils associés et des recommandations associées. Une interface graphique permet de sélectionner les investigations que l'on applique au système.

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