G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 11/00 (2006.01)
Patent
CA 2695177
System and method for automatic analysis and determination of a parameter. Measurement data are obtained from one or more sensors deployed to measure a desired parameter, the data being associated to identified locations. The measured data are processed to parse out the data obtained with at least one sensor configured to provide a measurement of a selected subsurface parameter and examined to automatically output a value determined to be the most accurate value for the selected parameter from the obtained measurement data.
L'invention concerne un système et un procédé pour une analyse automatique et une détermination d'un paramètre. Des données de mesure sont obtenues à partir d'un ou plusieurs capteurs déployés pour mesurer un paramètre souhaité, les données étant associées à des emplacements modifiés. Les données mesurées sont traitées pour analyser les données obtenues avec au moins un capteur configuré pour fournir une mesure d'un paramètre souterrain sélectionné et examiné pour sortir automatiquement une valeur déterminée comme étant la valeur la plus précise pour le paramètre sélectionné à partir des données de mesure obtenues.
Mccoy Matthew
Perchnok Robert
Radtke Richard J.
Schlumberger Canada Limited
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1563905