G - Physics – 06 – F
Patent
G - Physics
06
F
G06F 17/00 (2006.01) G06F 17/30 (2006.01)
Patent
CA 2659288
In its broad aspect, the invention provides a method for analyzing relationships among patterns within a data set having a set of samples and associated attribute values defining each attribute of each said sample. The method comprises receiving at an input at least two patterns; defining a data cluster within the data set for each of said at least two patterns, each defined data cluster having samples with attribute values associated with a corresponding pattern of said at least two patterns; grouping at least some of the samples of each defined data cluster with one another to generate a resultant data cluster; and calculating a variation between the attribute values of a first set of samples and the attribute values of a second set of samples within said resultant data cluster, the attribute values of the first set of samples and the second set of samples corresponding to the same attribute.
De manière générale, l'invention concerne un procédé d'analyse des relations entre motifs dans un ensemble de données présentant un ensemble d'échantillons et des valeurs d'attributs associées définissant chaque attribut desdits échantillons. Le procédé consiste à recevoir au niveau d'une entrée au moins deux motifs; à définir un groupe de données dans l'ensemble de données pour chacun des deux motifs; chaque groupe de données défini présentant des échantillons avec des valeurs d'attributs associées à un motif correspondant des deux motifs; à regrouper au moins certains des échantillons de chaque groupe de données défini les uns avec les autres afin de générer un groupe de données résultant; et à calculer un écart entre les valeurs d'attributs d'un premier ensemble d'échantillons et les valeurs d'attributs d'un second ensemble d'échantillons dans ledit groupe de données résultant, les valeurs d'attributs du premier ensemble d'échantillons et du second ensemble d'échantillons correspondant au même attribut.
Li Chung Lam
Wong Andrew Ka-Ching
Gowling Lafleur Henderson Llp
Pattern Discovery Technologies Inc.
Pattern Intelligence Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1547334