G - Physics – 01 – S
Patent
G - Physics
01
S
G01S 7/41 (2006.01) G01S 13/87 (2006.01)
Patent
CA 2446354
A system and method for detection and feature extraction in a passive coherent location system is disclosed. During a coherent processing interval, detections and target parameters for targets. The system forms and ambiguity surface that has ambiguity surface data or the coherent processing interval. Bins from a previous ambiguity surface are associated with the ambiguity data. New bins are identified for new target echoes within the ambiguity surface. Peak detections are formed from the bins. The peak detections correlate to the target echoes of the coherent processing interval. Target parameters for the targets are estimated from the peak detections.
L'invention concerne un système et un procédé de détection et d'extraction de caractéristiques dans un système à emplacement cohérent passif. Au cours d'un intervalle de traitement cohérent, des opérations de détection et d'extraction de caractéristiques sont exécutées afin de déterminer des détections de crête et des paramètres cibles pour les cibles. Le système forme une surface d'ambiguïté comprenant des données de surface d'ambiguïté ou l'intervalle de traitement cohérent. Des intervalles d'une surface d'ambiguïté antérieure sont associés aux données de surface d'ambiguïté. De nouveaux intervalles sont identifiés pour de nouveaux échos cibles dans la surface d'ambiguïté. Des détections de crête sont formées à partir des intervalles. Les détections de crête sont mises en corrélation avec les échos cibles de l'intervalle de traitement cohérent. Des paramètres cibles sont estimés pour les cibles à partir des détections de crête.
Baugh Kevin W.
Benner Robert H.
Lockheed Martin Corporation
Ridout & Maybee Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1384563