G - Physics – 02 – B
Patent
G - Physics
02
B
G02B 7/28 (2006.01) G02B 21/18 (2006.01) G02B 21/36 (2006.01)
Patent
CA 2758326
In an imaging device having an objective and a stage for holding a sample to be imaged, a method for autofocusing is presented. The method includes determining a measured focus value corresponding to at least a first of a plurality of logical image segments. Further, the method includes imaging the first logical image segment using the measured focus value. The method also includes determining a predicted focus value for a second of the plurality of logical image segments using the measured focus value and a stored focus variation parameter. In addition, the method includes imaging the second logical image segment using the predicted focus value.
L'invention porte sur un procédé d'autofocalisation dans un dispositif d'imagerie comprenant un objectif et une platine destinée à maintenir un échantillon devant être imagé. Le procédé comprend la détermination d'une valeur de focalisation mesurée correspondant à au moins un premier segment d'une pluralité de segments d'image logique. De plus, le procédé comprend l'imagerie du premier segment d'image logique à l'aide de la valeur de focalisation mesurée. Le procédé comprend également la détermination d'une valeur de focalisation prédite pour un second segment de la pluralité de segments d'image logique à l'aide de la valeur de focalisation mesurée et d'un paramètre de variation de focalisation stocké. De plus, le procédé comprend l'imagerie du second segment d'image logique à l'aide de la valeur de focalisation prédite.
Henderson David L.
Kenny Kevin B.
Yazdanfar Siavash
Company General Electric
Fetherstonhaugh & Co.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1345761