G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/309 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01)
Patent
CA 2340440
An inspection system (10) and method uses a first illumination apparatus, such as a ring illumination apparatus (20) to illuminate one or more reflective elements, such as solder balls on an electronic component or other protruding surfaces or objects. The ring illumination apparatus includes a substantially ring shaped light source (24) that provides a substantially even illumination across the one or more reflective elements. An illumination detection device (30) detects light beams reflecting off of the illuminated reflective elements for forming a first captured image. The system and method then uses a second, different illumination apparatus, such as an on-axis illumination apparatus (90) to illuminate the reflective elements. The second illumination apparatus is selected so as to illuminate unwanted reflective elements substantially the same as they are illuminated by the first illumination apparatus while illuminating the desired reflective elements differently. A second image of the object is then captured by the illumination detection device. The second image is then subtracted from the first or vice-versa by an image processor (38) to generate a resulting image that is substantially devoid of the unwanted reflective elements, yet including the desired reflective elements, which are further analyzed using additional image analysis techniques.
L'invention concerne un système de vérification et son procédé d'utilisation recourant à un premier appareil d'éclairage, tel qu'un appareil d'éclairage (20) circulaire, afin d'éclairer un ou plusieurs éléments réfléchissants, tels des billes de soudures placées sur un composant électronique, ou d'autres surfaces ou objets saillants. Cet appareil comprend une source lumineuse (24) sensiblement circulaire, produisant un éclairage sensiblement régulier en passant par un ou plusieurs éléments réfléchissants. Un détecteur (30) détecte les faisceaux lumineux renvoyés par les éléments réfléchissants, afin de former une première image capturée. Le système et le procédé utilisent ensuite un second appareil d'éclairage différent, tel qu'un appareil d'éclairage (90) axé, afin d'éclairer les éléments réfléchissants. Le second appareil d'éclairage est sélectionné afin d'éclairer des éléments réfléchissants non désirés sensiblement de la même manière que s'ils étaient éclairés par le premier appareil d'éclairage, tout en éclairant différemment les éléments réfléchissants désirés. Une seconde image est ensuite capturée par le détecteur. Cette seconde image est ensuite soustraite de la première ou vice-versa à l'aide d'un processeur d'images (38), afin de produire une image résultante qui est sensiblement dépourvue des éléments réfléchissants non désirés, mais qui comprend les éléments réfléchissants désirés qui sont ensuite analysés au moyen de techniques supplémentaires d'analyse d'image.
King Steven Joseph
Ludlow Jonathan Edmund
Acuity Imaging Llc
Bcf Llp
Microscan Systems Inc.
LandOfFree
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