G - Physics – 06 – K
Patent
G - Physics
06
K
G06K 15/02 (2006.01) B41J 2/21 (2006.01) B41J 29/46 (2006.01) G06T 1/00 (2006.01) G06T 11/60 (2006.01) H04N 1/46 (2006.01) G01B 11/24 (2006.01)
Patent
CA 2356677
A system and method is disclosed for analyzing a test pattern printed by a printing device onto a substrate to determine the printing properties of the substrate. The test pattern includes: (i) a first cell having a background of a first color and a pattern of a second color and (ii) a second cell having a background of the second color and a pattern of the first color. The patterns each include a plurality of dots that are randomly positioned within each pattern. Prior to analyzing the test pattern, the first and second colors are differentiated from each other using color-band and threshold selection techniques. A variety of print defect indices are disclosed for analyzing the test pattern including a gain index, a raggedness index, a circularity index, and a non-uniformity index. The results of analysis can be calculated as a single value for a simple and convenient representation of the print quality of the substrate.
La présente invention concerne un système et un procédé d'analyse d'une mire imprimée sur un substrat avec un dispositif d'impression, en vue de déterminer les propriétés d'impression du substrat. Cette mire comprend: (i) une première cellule avec un fond de première couleur et un motif de seconde couleur, et (ii) une seconde cellule avec un fond de seconde couleur et un motif de première couleur. Ces motifs comprennent chacun une pluralité de points placés au hasard. Avant d'analyser la mire, les première et seconde couleurs sont différenciées l'une de l'autre en utilisant des techniques de sélection de colonne de couleur et de seuil. En outre, cette invention concerne une grande variété d'indices de défaut d'impression permettant d'analyser la mire faisant intervenir un indice de gain, un indice d'irrégularité, un indice de circularité, et un indice de non-uniformité. Par ailleurs, on peut calculer les résultats de cette analyse comme valeur unique pour une représentation simple et appropriée de la qualité de l'imprimé du substrat.
Amero Bernard A.
Rosenberger Roy
Amero Bernard A.
Champion International Corporation
Ridout & Maybee Llp
Rosenberger Roy
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1613061