System for measuring properties of materials

G - Physics – 01 – R

Patent

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G01R 27/22 (2006.01) G01N 27/02 (2006.01) G01N 27/04 (2006.01) G01N 27/06 (2006.01)

Patent

CA 2177694

A system for determining a property, such as conductivity, of a material (18) in which a sensor (15) provides a square wave sensor output signal the value of which is selected to the proper in response to a square wave driver signal. The sensor (15) output signal is compared with a feedback signal to produce an error signal. A forward circuit (21) responds to the error signal and provides an in- phase component thereof which is integrated to provide an integrated DC output signal. A feedback signal provides an in-phase square wave feedback signal the peak-to-peak amplitude of which has a precisely selected relationship with the integrated DC output signal for comparison with the square wave sensor output signal to reduce the error signal to zero. The integrated DC output signal can be digitized and suitably processed to provide a signal which represents the property of the material (18) to a high degree of accuracy.

Cette invention se rapporte à un système pour déterminer une propriété, par exemple la conductivitié, d'un matériau (18), dans lequel un capteur (15) fournit un signal de sortie de capteur en onde carrée, dont la valeur est choisie au niveau juste en réponse à un signal d'excitateur en onde carrée. Le signal de sortie du capteur (15) est comparé à un signal de rétroaction, afin de produire un signal d'erreur. Un circuit à amplification directe (21) répond au signal d'erreur et fournit une composante en phase de ce signal, laquelle est intégrée pour produire un signal de sortie C.C. intégré. Un signal de rétroaction fournit un signal de rétroaction en onde carrée en phase dont l'amplitude de crête à crête présente une relation choisie de façon précise par rapport au signal de sortie C.C. intégré, en vue de sa comparaison avec le signal de sortie de capteur en onde carrée, afin de réduire le signal d'erreur jusqu'à ce qu'il soit égal à zéro. Le signal de sortie C.C. intégré peut être numérisé et traité de façon appropriée, pour fournir un signal qui représente avec un haut degré de précision la propriété du matériau (18) devant être déterminée.

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