Systems and methods for analyzing substances using a mass...

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H - Electricity

01

J

H01J 49/26 (2006.01) G01N 30/72 (2006.01) H01J 49/10 (2006.01)

Patent

CA 2718535

Systems and methods for analyzing compounds in a sample. In one embodiment, the present technology is directed towards a method of analyzing a sample, comprising: emitting ions from the sample; selectively filtering the emitted ions for at least one designated trigger ion; fragmenting the designated trigger ions; scanning for a designated trigger ion fragment; and upon detecting the designated trigger ion fragment, scanning for at least one confirmatory ion fragment.

L'invention porte sur des systèmes et des procédés pour analyser des composés dans un échantillon. Dans un mode de réalisation, la présente technologie porte sur un procédé d'analyse d'un échantillon, comprenant les opérations consistant à : émettre des ions à partir de l'échantillon; filtrer sélectivement les ions émis pour au moins un ion déclencheur désigné; fragmenter les ions déclencheurs désignés; effectuer un balayage pour détecter un fragment d'ion déclencheur désigné; et lors d'une détection du fragment d'ion déclencheur désigné, effectuer un balayage pour détecter au moins un fragment d'ion de confirmation.

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