H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/26 (2006.01) G01N 27/00 (2006.01)
Patent
CA 2707166
Systems and methods for analyzing compounds in a sample. In one embodiment, the present technology is directed towards a method of analyzing a sample, comprising: emitting ions from the sample; selecting the emitted ions for a designated ion; fragmenting the designated ions; scanning for a plurality of designated ion fragments; determining a designated fragment chromatographic trace for each designated ion fragment; and generating a combined chromatographic trace cor corresponding to a non-linear combination of a plurality of designated fragment chromatographic traces.
L'invention porte sur des systèmes et des procédés pour analyser des composés dans un échantillon. Dans un mode de réalisation, la présente technologie porte sur un procédé d'analyse d'un échantillon, comprenant les opérations consistant à : émettre des ions à partir de l'échantillon; sélectionner les ions émis en vue de désigner un ion; fragmenter les ions désignés; balayer une pluralité de fragments des ions désignés; déterminer une trace chromatographique de fragment désigné pour chaque fragment d'ion désigné; et générer une trace chromatographique combinée correspondant à une combinaison non linéaire d'une pluralité de traces chromatographiques de fragment désigné.
Bonner Ron F.
Burton Lyle L.
Le Blanc Yves
Bereskin & Parr Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
Dh Technologies Development Pte. Ltd.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1906976