Systems and methods for analyzing two-dimensional images

G - Physics – 06 – K

Patent

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Details

G06K 9/00 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01)

Patent

CA 2491970

System and methods for analyzing a source image (22). A source image data set (24), is generated from the source image. The source image data set comprises disply (52), data and location data. The location data indicates the location of the display data with reference to a two-dimensional coordinate system. The display data is used to reproduce the source image. A surface model (148), is generated based on the source image data set.

L'invention se rapporte à des systèmes et à des procédés d'analyse d'une image source. Un ensemble de données d'image source est généré à partir de l'image source. Cet ensemble de données d'image source comprend des données d'affichage et des données d'emplacement. Ces données d'emplacement indiquent l'emplacement des données d'affichage comportant une référence au système coordonné bidimensionnel. Les données d'affichage sont utilisées afin de reproduire l'image source. Un modèle de surface est généré en fonction de l'ensemble de données d'image source. Ce modèle de surface est défini par des données d'emplacement correspondant aux données d'emplacement de l'ensemble de données d'image source et par des données d'intensité générées en fonction des données d'affichage. Le modèle de surface est interrogé afin de déterminer les caractéristiques de l'image source.

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Profile ID: LFCA-PAI-O-1822671

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