H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/26 (2006.01) G01N 27/62 (2006.01) G01T 1/29 (2006.01)
Patent
CA 2629201
Systems and methods for calculating ion flux. In one embodiment, a mass spectrometer includes an ion source for emitting a beam of ions from a sample through a plurality of pulses during an analysis period, and a detector positioned downstream of said ion source. A clock is provided which is configured to determine a repeatable series of bins, wherein each bin in the repeatable series will correspond to a corresponding pulse time segment in every pulse. Additionally a controller is provided which is operatively coupled to the detector and to the clock and configured to determine the total number of pulses during the analysis period. The controller is further configured to determine for at least one bin in the repeatable series, the number of corresponding pulse time segments in which no ion impact was detected during the analysis period. The controller is also configured to calculate the ion flux corresponding to the at least one bin and wherein said ion flux is calculated to be correlated to the probability of not detecting an ion impact during pulse time segments which correspond to the at least one bin in the repeatable series.
Cette invention concerne des systèmes et des procédés de calcul de flux d'ions. Dans un mode de réalisation, un spectromètre de masse comprend une source d'ions servant à émettre un faisceau d'ions à partir d'un échantillon par une pluralité d'impulsions pendant une période d'analyse et un détecteur positionné en aval de la source d'ions. Une horloge est utilisée, laquelle est conçue pour déterminer une série reproductible de cellules, chaque cellule de la série reproductible correspondant à un segment temporel d'impulsion correspondant dans chaque impulsion. En outre, une unité de commande est utilisée, laquelle est couplée de manière opérationnelle au détecteur et à l'horloge et conçue pour déterminer le nombre total d'impulsions pendant la période d'analyse. L'unité de commande est également conçue pour déterminer, pour au moins une cellule dans la série reproductible, le nombre de segments temporels d'impulsion correspondants dans lesquels aucun impact d'ion n'a été détecté pendant la période d'analyse. L'unité de commande est également conçue pour calculer le flux d'ions correspondant à la ou aux cellules, le flux d'ions étant calculé pour être mis en corrélation avec la probabilité de non détection d'impact d'ion pendant les segments temporels d'impulsion qui correspondent à la ou aux cellules dans la série reproductible.
Bloomfield Nic
Ivosev Gordana
Applera Corporation
Bereskin & Parr Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
Doing Business Through Its Sciex Division Mds Analytical Technologies A. Business Unit Of Mds Inc.
LandOfFree
Systems and methods for calculating ion flux in mass... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Systems and methods for calculating ion flux in mass..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Systems and methods for calculating ion flux in mass... will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1567057