Systems and methods for correcting for unequal ion...

H - Electricity – 01 – J

Patent

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H01J 49/26 (2006.01) G01N 27/00 (2006.01) G01N 27/62 (2006.01) G01T 1/16 (2006.01)

Patent

CA 2659067

Systems and methods for calculating ion flux. In one embodiment, a mass spectrometer includes an ion source for emitting a beam of ions from a sample and at least one detector positioned downstream of said ion source. The at least one detector comprises a plurality of detector channels. The mass spectrometer also includes a controller operatively coupled to the plurality of detector channels. The controller is configured to: determine ion abundance data correlated to each detector channel; determine corrected ion abundance data correlated to each detector channel; determine confidence data corresponding to the ion abundance data for each of the detector channels; and determine a confidence weighted abundance estimate of the ion flux correlated to both the ion abundance data and to the confidence data.

L'invention concerne des systèmes et des procédés destinés à calculer un flux ionique. Dans l'un des modes de réalisation, un spectromètre de masse comprend une source ionique destinée à émettre un faisceau ionique à partir d'un échantillon et au moins un détecteur positionné en aval de cette source. Ce détecteur comprend plusieurs canaux. Le spectromètre de masse comprend également un dispositif de commande couplé fonctionnel à plusieurs canaux du détecteur. Ce dispositif de commande est conçu de manière: à déterminer les données d'abondance ionique corrélées à chaque canal de détecteur; à déterminer les données de fiabilité correspondant aux données d'abondance ionique pour chaque canal de détecteur; et à déterminer une estimation d'abondance pondérée de fiabilité du flux ionique corrélée à la fois aux données d'abondance ionique et aux données de fiabilité.

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