G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/087 (2006.01) A61B 6/03 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01)
Patent
CA 2745370
Systems and methods for detecting an image of an object using a multi- beam imaging system from an x-ray beam having a polychromatic energy distribution are disclosed. According to one aspect, a method can include generating a first X-ray beam having a polychromatic energy distribution. Further, the method can include positioning a plurality of monochromator crystals in a predetermined position to directly intercept the first X-ray beam such that a plurality of second X-ray beams having predetermined energy levels are produced. Further, an object can be positioned in the path of the second X-ray beams for transmission of the second X-ray beams through the object and emission from the object as transmitted X-ray beams. The transmitted X--ray beams can each be directed at an angle of incidence upon one or more crystal analyzers. Further, an image of the object can be detected from the beams diffracted from the analyzer crystals.
L'invention porte sur des systèmes et des procédés de détection d'une image d'un objet à l'aide d'un système d'imagerie multifaisceaux à partir d'un faisceau de rayons X ayant une distribution d'énergie polychromatique. Selon un aspect, un procédé peut comprendre la génération d'un premier faisceau de rayons X ayant une distribution d'énergie polychromatique. En outre, le procédé peut comprendre le positionnement d'une pluralité de cristaux monochromateurs dans une position prédéterminée afin d'intercepter directement le premier faisceau de rayons X de manière à produire une pluralité de seconds faisceaux de rayons X ayant des niveaux d'énergie prédéterminés. En outre, un objet peut être positionné dans le trajet des seconds faisceaux de rayons X en vue d'une transmission des seconds faisceaux de rayons X à travers l'objet et d'une émission à partir de l'objet en tant que faisceaux de rayons X transmis. Les faisceaux de rayons X transmis peuvent être dirigés chacun à un certain angle d'incidence sur un ou plusieurs cristaux analyseurs. En outre, une image de l'objet peut être détectée à partir des faisceaux diffractés par les cristaux analyseurs.
Connor Dean M. Jr.
Parham Christopher
Pisano Etta
Zhong Zhong
Brookhaven Science Associates
Nextray Inc.
Norton Rose Or S.e.n.c.r.l. S.r.l./llp
The University Of North Carolina At Chapel Hill
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1778776