Temperature compensated logarithmic detector

H - Electricity – 01 – L

Patent

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Details

H01L 31/058 (2006.01) G06G 7/24 (2006.01) H03G 7/00 (2006.01)

Patent

CA 2241601

A temperature compensated logarithmic detector biased with a proportional to absolute temperature (PTAT) voltage produced in accordance with an area ratio of biasing transistors is disclosed. According to one implementation of the invention, the temperature compensated logarithmic detector includes biasing circuitry (12) and a logarithmic detector cell (14). The biasing circuitry receives an input signal and produces a PTAT bias voltage from the input signal. The PTAT characteristic of the PTAT bias voltage is produced by an area ratio. The logarithmic detector cell converts the input signal to a logarithmic output signal in accordance with a logarithmic transfer function over a narrow range.

La présente invention concerne un détecteur logarithmique compensé en température produisant une tension proportionnelle à la température absolue en fonction d'un rapport d'aires de transistors de polarisation. Selon une réalisation de l'invention, le détecteur logarithmique compensé en température est constitué d'un circuit de polarisation (12) et d'une cellule détecteur logarithmique (14). Le circuit de polarisation reçoit un signal d'entrée et, à partir du signal d'entrée, produit une tension de polarisation proportionnelle à la température absolue. La caractéristique de proportionnalité à la température absolue de la tension de polarisation proportionnelle à la température absolue résulte d'un rapport d'aires. La cellule détecteur logarithmique convertit en signal de sortie logarithmique le signal d'entrée en tenant compte d'une fonction de transfert logarithmique portant sur une plage étroite.

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