G - Physics – 01 – K
Patent
G - Physics
01
K
G01K 11/00 (2006.01)
Patent
CA 2649060
A temperature measurement technique for calculating a temperature in a high temperature environment by monitoring a change in resonant frequency of a resonant structure loaded with a dielectric material. A response curve for a reflection coefficient S11 associated with the resonant structure is generated, typically by the use of a network analyzer connected to the resonant structure via a cable. A minimum point for the response curve is identified to detect the resonant frequency for the resonant structure. A calibration map is applied to the minimum point to identify a temperature associated with the resonant frequency of the resonant structure. The temperature associated with the resonant frequency of the resonant structure represents the temperature of the high temperature environment.
L'invention concerne une technique de mesure de la température permettant de calculer une température dans un environnement à température élevée en surveillant un changement de fréquence de résonance d'une structure résonnante chargée avec un matériau diélectrique. Une courbe de réponse pour un coefficient de réflexion S11 associé à la structure résonnante est générée, typiquement par l'utilisation d'un analyseur de réseau connecté à la structure résonnante par l'intermédiaire d'un câble. Un point minimum pour la courbe de réponse est identifié pour détecter la fréquence de résonance pour la structure résonnante. Une carte d'étalonnage est appliquée au point minimum pour identifier une température associée à la fréquence de résonance de la structure résonnante. La température associée à la fréquence de résonance de la structure résonnante représente la température de l'environnement à température élevée.
Billington Scott
Geisheimer Jonathan
Holst Thomas
Mbm Intellectual Property Law Llp
Radetec Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1705502