Test device for flat electronic assemblies

Details Test device for flat electronic assemblies Test device for flat electronic assemblies

G - Physics

01

R

G01R 31/28 (2006.01) G01R 1/067 (2006.01) G01R 1/073 (2006.01) G01R 31/01 (2006.01)

Patent

CA 2211703

The invention concerns a test device for electronic board assemblies, said device comprising at least one probe which can be positioned parallel to the surface within the total area of an assembly by drive devices. The test device is characterized in that the drive devices comprise a probe drive which, operating in all directions of movement independently of other probe drives, positions the probe on a sub-area of the total area.

La présente invention concerne un appareil de contrôle pour ensembles électroniques plats, qui comprend au moins une tête de contrôle pouvant être positionnée parallèlement à la surface, à l'intérieur de la surface globale d'un ensemble par des dispositifs d'entraînement, et caractérisé en ce que les dispositifs d'entraînement possèdent une commande de tête qui, fonctionnant indépendamment des commandes d'autres têtes de contrôle pour toutes les coordonnées de déplacements, positionne la tête de contrôle sur une surface partielle de la surface globale.

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