Test probe

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G - Physics

01

R

G01R 1/067 (2006.01) H01R 13/631 (2006.01)

Patent

CA 2741161

The invention relates to a test probe (1) for mating with a connector (30) in a probe insertion direction (I), comprising a housing (2), an outer contact portion (8), the outer contact portion (8) supported by the housing (2) and extending away from the housing (2), said outer contact portion (8) supported by an elastically deformable outer biasing means (21) and being adapted to be deflected substantially perpendicular to the probe insertion direction (I) and at least one contact assurance means (19), said contact assurance means (19) connecting the outer contact portion (8) electrically conductively to the housing (2). To decrease the number of parts the contact assurance means (19) has at least one contact section (19c), said contact section (19c) pressed conductively against the housing (2) by being elastically deflected.

La présente invention a pour objet une sonde dessai (1) pour saccoupler à un connecteur (30) dans une direction dinsertion (I) de la sonde, comprenant un logement (2), une partie de contact externe (8), la partie de contact externe (8) étant soutenue par le logement (2) et sétendant à lextérieur du logement (2), ladite partie de contact externe (8) étant soutenue par un moyen de polarisation externe élastiquement déformable (21) et étant conçue pour être déviée de manière sensiblement perpendiculaire à la direction dinsertion (I) de la sonde et au moins un moyen de garantie de contact(19), ledit moyen de garantie de contact (19) reliant la partie de contact externe (8) de manière à conduire lélectricité au logement (2). Pour diminuer le nombre de pièces, le moyen de garantie de contact (19) possède au moins une section de contact (19c), ladite section de contact (19c) étant pressée de manière conductrice contre le logement (2) en étant élastiquement déviée.

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