G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/00 (2006.01) G01D 21/00 (2006.01) G01N 37/00 (2006.01) G01R 31/327 (2006.01)
Patent
CA 2255916
Test system and test method for testing the operability of test samples (?). A selection can be made in a user-specific manner from a plurality of test modules (2a- 2c) which are made available, which can be assembled together to a desired test specification. A control module (1) carries out the overall test corresponding to the user-specific test specification, and controls individual selected test modules (2a-2c) in the desired sequence in correspondence to this test specification. Advantageously, there is produced automatically a test report on the test results of the individual selected test modules (2a-2c), which reports in particular embedded in the user- specific test specification.
L'invention concerne un système d'essai et un procédé d'essai destinés à tester l'aptitude fonctionnelle d'échantillons (7). A partir de plusieurs modules d'essai préparés (2a - 2c), on peut sélectionner, de façon spécifique pour l'utilisateur, ceux pouvant être assemblés pour des prescriptions d'essai quelconques. Un module de commande (1) effectue l'essai global correspondant aux prescriptions d'essai spécifiques pour l'utilisateur, et commande dans l'ordre voulu, conformément à ces prescriptions, les modules d'essai (2a - 2c) sélectionnés individuellement. Avantageusement, on établit un rapport d'essai relatif aux résultats d'essai des modules d'essai sélectionnés individuellement (2a - 2c), rapport qui est incorporé notamment aux prescriptions d'essai spécifiques pour l'utilisateur.
Hensler Thomas
Peter Winfried
Gowling Lafleur Henderson Llp
Omicron Electronics Gmbh
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1430607