G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/25 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01)
Patent
CA 2732300
An in-situ time domain spectroscopy (TDS)-based method (200) for non-contact characterization of properties of a sheet material while being produced by a manufacturing system (700). A time domain spectrometry system (100) and calibration data for the system (100) is provided. The calibration data includes data for transmitted power through or reflected power from the sheet material as a function of a moisture content of the sheet material. At least one pulse of THz or near THz radiation from a transmitter (111) is directed at a sample location on a sheet material sample (130) while being processed by the manufacturing system (700). Transmitted or reflected radiation associated with at least one transmitted or reflected pulse from the sample location is synchronously detected by a detector (110) to obtain the sample data. The sample data, which is coincident data, is processed together with the calibration data (207, 208, 209) to determine at least one, and generally a plurality of properties of the sheet material sample (130) selected from caliper, basis weight and moisture content.
L'invention porte sur un procédé basé sur la spectroscopie temporelle in situ (TDS) (200) pour la caractérisation sans contact de propriétés d'un matériau en feuille tandis qu'il est produit par un système de fabrication (700). Le système de spectroscopie temporelle (100) et des données de calibrage pour le système (100) sont fournis. Les données de calibrage comprennent des données pour la puissance transmise à travers ou la puissance réfléchie à partir du matériau en feuille comme fonction de la teneur en humidité du matériau en feuille. Au moins une impulsion d'un rayonnement de THz ou proche de THz, à partir d'un émetteur (111), est dirigée vers un emplacement d'échantillon sur un échantillon de matériau en feuille (130) tandis qu'il est traité par le système de fabrication (700). Le rayonnement transmis ou réfléchi associé à au moins une impulsion transmise ou réfléchie à partir de l'emplacement d'échantillon est détecté de manière synchrone par un détecteur (110) pour obtenir les données d'échantillon. Les données d'échantillon, qui sont des données coïncidentes, sont traitées conjointement avec les données de calibrage (207, 208, 209) pour déterminer au moins une et généralement une pluralité de propriétés de l'échantillon de matériau en feuille (130), choisies parmi l'épaisseur, la masse surfacique et la teneur en humidité.
Dodge Steven
Haran Frank Martin
Jez David
Mousavi Payam
Gowling Lafleur Henderson Llp
Honeywell Asca Inc.
LandOfFree
Time domain spectroscopy (tds)-based method and system for... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Time domain spectroscopy (tds)-based method and system for..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Time domain spectroscopy (tds)-based method and system for... will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1767826