G - Physics – 04 – F
Patent
G - Physics
04
F
G04F 10/04 (2006.01) G01R 23/10 (2006.01) G01R 29/02 (2006.01) G01R 29/027 (2006.01)
Patent
CA 2182356
In order to measure an individual time interval with accuracy be- yond frequency limit of semiconductors, a time measurement system of the invention generates a series of delayed pulses, each of which has the same pulse width with the time interval to be measured and delayed by a unit delay time shorter than a cycle time of a system clock from its preceding delayed pulse. A series of discriminate number measurement pulses are also gen- erated from the series of delayed pulses, each of which rises at a com- mon time and falls at each corresponding delay pulse. From number of a longest sequence of the same pulse number of the system clock counted in the discriminate number measurement pulses, the unit delay time is measured. From average value of pulse numbers of the system clock counted in each of the delayed pulses, the time interval to be measured is cal- culated with accuracy of the unit delay time.
Afin de mesurer un intervalle de temps individuel avec une précision supérieure à la limite de fréquence des semiconducteurs, un système de mesure du temps produit une série d'impulsions retardées, chacune ayant la même durée que l'intervalle de temps à mesurer et un retard unitaire inférieur à la durée d'un cycle d'une horloge système par rapport à l'impulsion retardée précédente. Une série d'impulsions de mesure de nombre discriminé sont également produites à partir de la série d'impulsions retardées, chacune montant à un même moment et descendant à chaque impulsion de retard correspondante. A partir d'un nombre de la plus longue séquence d'un même nombre d'impulsions de l'horloge système comptées dans les impulsions de mesure de nombre discriminé, le retard unitaire est mesuré. A partir de la valeur moyenne des nombres d'impulsions de l'horloge système comptées dans chacune des impulsions retardées, l'intervalle de temps à mesurer est calculé avec la précision du retard unitaire.
Nec Electronics Corporation
Smart & Biggar
LandOfFree
Time interval measurement system and a method applied therein does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Time interval measurement system and a method applied therein, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Time interval measurement system and a method applied therein will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-2061558