Time of flight mass spectrometer and multiple detector therefor

Details Time of flight mass spectrometer and multiple detector therefor Time of flight mass spectrometer and multiple detector therefor

H - Electricity

01

J

H01J 49/40 (2006.01)

Patent

CA 2448308

An ion detection arrangement (140) for a time-of-flight (TOF) mass spectrometer (10) includes a beam splitter formed as a mesh (150) at the end of the (TOF) acceleration and detection chamber (110). Ions enter the detection arrangement through a common entrance window and are then divided by the beam splitter. Those ions striking the mesh (150) generate secondary electrons (160) which are detected by a microchannel plate forming a first detector (170). Those ions passing through the ion beam splitter are detected directly by a second detector (190) also formed from a microchannel plate. The two detectors are each connected to a corresponding data acquisition system (180,200) and the data obtained by each are combined to generate a mass spectrum. The problems of detector saturation are thus avoided.

L'invention concerne un ensemble (140) de détection d'ions pour spectromètre de masse à temps de vol (10), comprenant un diviseur de faisceau sous forme de maille (150) située à l'extrémité de la chambre (110) de détection et d'accélération de temps de vol. Les ions pénètrent dans l'ensemble de détection par une fenêtre d'entrée commune, avant d'être séparés par le diviseur de faisceau. Les ions qui heurtent la maille (150) génèrent des électrons secondaires (160), qui sont détectés par une plaque à microcanaux formant un premier capteur (170). Les ions qui traversent le diviseur de faisceau sont détectés directement par un deuxième capteur (190), également constitué d'une plaque à microcanaux. Ces deux capteurs sont chacun connectés à un système d'acquisition de données (180,200) correspondant et les données obtenues par chacun d'eux sont combinées pour générer un spectre de masse. Ainsi, les problèmes de saturation de capteur sont évités.

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