G - Physics
06
T
G06T 17/20 (2006.01) G06F 17/50 (2006.01)
Patent
CA 2488055
According to one embodiment of the invention, a method for modeling a feature associated with a deformed material is provided. The method includes generating a first mesh having a model of a feature and a second mesh. A normal distance between a point on the model of the feature and the surface of the first mesh is measured. A location of the surface point of the first mesh that is used to measure the normal distance is determined. The determined location is used to locate the same surface point on the second mesh. A new location for a new point corresponding to the point on the model of the feature associated with the first mesh is determined. The new location is located at the distance as the determined normal distance, but along a normal vector that intersects the same surface point on the second mesh.
Dans un mode de réalisation de cette invention, on prévoit un procédé de modelage d'un trait associé à une substance déformée. Le procédé consiste à générer un premier réseau ayant un modèle d'un trait et un second réseau. Une distance normale séparant un point sur le modèle du trait de la surface du premier réseau est mesuré. On détermine ensuite l'emplacement du point superficiel du premier réseau que l'on utilise pour mesurer la distance normale, l'emplacement déterminé servant ensuite à localiser le même point superficiel sur le second réseau. On détermine alors un nouvel emplacement pour un nouveau point correspondant au point sur le modèle du trait associé au premier réseau. On localise le nouvel emplacement à la distance de la distance normale déterminée, mais le long d'un vecteur normal qui croise le même point superficiel sur le second réseau.
Kirby Eades Gale Baker
Ugs Corp.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1569804